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探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節(jié)精度上來區(qū)分可分為10um/5um/3um/1um/0.5um等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數測試。此款為萬向型10μm探針座，針對一些對夾具旋轉角度有特殊要求的場景，如斜向上扎針等。

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節(jié)精度上來區(qū)分可分為10um/5um/3um/1um/0.5um等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數測試。此款為通用型10μm探針座，具有較高的性價比。

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節(jié)精度上來區(qū)分可分為10um/5um/3um/1um/0.5um等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數測試。此款為萬向型5μm探針座，針對一些對夾具旋轉角度有特殊要求的場景，如斜向上扎針等。

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節(jié)精度上來區(qū)分可分為10um/5um/3um/1um/0.5um等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數測試。此款為通用型3μm探針座

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節(jié)精度上來區(qū)分可分為10um/5um/3um/1um/0.5um等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數測試。此款為通用型1μm探針座，適用于對調節(jié)精度要求較高的測試實驗。

探針座作為探針臺的核心部件，主要用途是連接探針和線纜，為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件，從調節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.7μm/0.5μm等，從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動，此外根據應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等，廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數測試。此款為通用型0.7μm探針座，適用于對精度要求非常高的實驗測試場景。