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探針臺附件
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測試探針作為探針臺的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測件電極，為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個導通條件，從不同應用場景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應用于半導體及光電等行業(yè)的測試。
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